在2008年6月18～20日于美國夏威夷舉行的“2008年超大規模集成電路技術(shù)討論會(huì )（2008SymposiumonVLSICircuits）”上，NEC公司宣布研發(fā)出了一種基于片上的溫度傳感器技術(shù)，可以通過(guò)一種設備使熱度的分布水平“可視化”，從而降低電力消耗。這意味著(zhù)NEC公司在數據中心及相關(guān)環(huán)境應用方面取得了突破。

    據NEC介紹，這款傳感器的尺寸只有市面上原先產(chǎn)品的1/10，可以集成到大規模集成電路設備里。它可以把溫度的變化轉換成數字信號，實(shí)時(shí)地將大規模集成電路設備的熱度分布“可視化”。

    這項技術(shù)將會(huì )使有益于時(shí)鐘頻率、數據處理速度及電壓水平的發(fā)展朝著(zhù)更好的方向發(fā)展，NEC中央研究院設備平臺研究室的高級經(jīng)理MasayukiMizuno說(shuō)，它能使大規模集成電路設備的電力消耗降低20%～50%，片上的傳感器之前已經(jīng)在NEC的SX-9超級計算機里演示過(guò)了，有10個(gè)溫度傳感器集成在SX-9的一個(gè)CPU里，該處理器的尺寸是19.84×21.04mm，每個(gè)溫度傳感器的尺寸則為35×35?m。他認為，因此通過(guò)持續不斷地實(shí)時(shí)監控，可以調節數據中心的溫度，從而降低整體的電力消耗。NEC的熱傳感器還可以用于消費類(lèi)產(chǎn)品、交通工具、網(wǎng)絡(luò )及服務(wù)器。
 
    NEC發(fā)明的這項技術(shù)似乎是世界上熱傳感器或溫度傳感器方面的重大突破。NEC稱(chēng)，傳統的基于二極管的熱傳感器“體積太大且很笨重”，很難在芯片上裝備很多熱傳感器，從而阻礙芯片管理溫度的能力。而NEC的熱傳感器技術(shù)并非基于二級管的解決方案，而是使用了多項技術(shù)，其中包括電流型?！獢缔D換器和擁有單一測量功能的溫度檢驗單元。順理成章，這還可以發(fā)現和監測大規模集成電路設計中的另一項重要問(wèn)題——漏電流，漏電流導致晶體管和連線(xiàn)的壽命大約降低50%。
據NEC稱(chēng)，這項技術(shù)的關(guān)鍵之一是在將設備里的溫度分布情況“可視化”，“為了控制熱度，會(huì )從大規模集成電路芯片的特殊區域進(jìn)行獨立的本地的測量，這樣就會(huì )使任務(wù)在芯片上幾乎不活躍的地區進(jìn)行，從而減少用于運行所要求的電量，并且減輕了環(huán)境的影響。最新的熱傳感器可以通過(guò)以小規模的可以將漏電流轉換成數字信號的轉換電路，來(lái)測量晶體管的漏電流，從而計算出溫度” 一項換算公式被發(fā)明出來(lái)測量一個(gè)活躍的大規模集成電路的漏電流的量，并將其轉換成溫度。，溫度計算上的錯誤可以通過(guò)新技術(shù)來(lái)校正，這項技術(shù)需要測量每個(gè)熱傳感器在室溫時(shí)的漏電流。

    “最新傳感器已經(jīng)取得了極大的改進(jìn)，其準確率在3攝氏度以?xún)?，”NEC的發(fā)言人稱(chēng)。