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資訊頻道 2011年8月——美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI）擴展其PXI平臺的功能，通過(guò)新發(fā)布的每個(gè)引腳參數測量單元模塊(PPMU)和源測量單元模塊（SMU）用于半導體的特性描述和生產(chǎn)測試。NI PXIe-6556 200 MHz高速數字I / O具備PPMU， NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低資本設備成本，縮短測試時(shí)間，并提升各種測試設備的混合信號靈活性。
使用NI PXIe-6556高速數字I / O模塊，工程師可以產(chǎn)生和獲得一個(gè)高達200 MHz的數字波形或在同一針腳上，以 1% 誤差率執行 DC 參數測量，從而簡(jiǎn)化布線(xiàn)，減少測試時(shí)間和提高直流參數測試儀的測量密度。此外，其內置的時(shí)序校準功能可自動(dòng)調整時(shí)序，幫助工程師們消除不同連線(xiàn)與線(xiàn)路長(cháng)度所造成的時(shí)序偏移，。NI PXIe-6556可選擇是否以其他精度更高的NI SMU切換，工程師可基于硬件或軟件觸發(fā)器，進(jìn)而觸發(fā)參數測量。
NI PXIe-4140/41 SMU模塊可用于PXI Express插槽，提供多達4個(gè)SMU的通道，而4U的單一PXI機箱可提供多達68個(gè)SMU的通道,以輕松應對高針數設備的測試。高達每秒600,000樣本的采樣率，工程師們可以大大減少測量時(shí)間，或獲取設備重要的瞬態(tài)特性。此外，NI PXIe-4141具備新一代的SourceAdapt技術(shù)，工程師們可根據任何給定的負載自定義調整SMU輸出，以實(shí)現最大的穩定性和最小的瞬態(tài)倍。傳統SMU技術(shù)無(wú)法提供此功能。
結合使用NI LabVIEW系統設計軟件，這些新PPMU和SMU模塊為半導體測試提供了模塊化的軟件定義測量方式，從而提高質(zhì)量，降低成本并減少整個(gè)測試驗證，特性研究和生產(chǎn)的時(shí)間。 LabVIEW具有靈活性編程語(yǔ)言與先進(jìn)的工程工具的力量，使工程師能夠滿(mǎn)足特定、定制化的要求。
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北京市公安局海淀分局備案號：11010802023656號