日前,由中國電子科技集團第45所承擔的國際科技合作項目“自動(dòng)光學(xué)檢測(AOI)設備技術(shù)合作”,通過(guò)了國家級驗收,技術(shù)指標達到了國外同類(lèi)設備水平,標志著(zhù)自動(dòng)光學(xué)檢測(AOI)設備實(shí)現了國產(chǎn)化,填補了國內空白。
據了解,當今電子裝備在結構上強調實(shí)現小型化、微型化、模塊化,以滿(mǎn)足高性能、高可靠、大容量、小薄輕的要求。線(xiàn)路板上元器件組裝密度提高,其線(xiàn)寬、間距、焊盤(pán)越來(lái)越細小,已到微米級,復合層數越來(lái)越多。傳統的人工目測(MVI)和針床在線(xiàn)測試(ICT)檢測因“接觸受限”(電氣接觸受限和視覺(jué)接觸受限)所制,已不能完全適應當今制造技術(shù)的發(fā)展,自動(dòng)光學(xué)檢測系統(AOI)已經(jīng)成為IC制造業(yè)的必然需求,正越來(lái)越多地用來(lái)代替傳統MVI和ICT技術(shù),進(jìn)行檢測,用于監視和保證生產(chǎn)過(guò)程的品質(zhì)。目前,我國自動(dòng)光學(xué)檢測系統(AOI)設備主要依賴(lài)進(jìn)口,一直被以色列、美國、日本等國家所壟斷。
中國電子科技集團第45所,與加拿大開(kāi)展了卓有成效的國際科技合作,共同研發(fā)自動(dòng)光學(xué)檢測(AOI)設備,通過(guò)引進(jìn)、消化吸收、再創(chuàng )新,終于研制出了具有國際水平的自動(dòng)光學(xué)檢測(AOI)設備,打破了國外的壟斷與技術(shù)封鎖,使進(jìn)口產(chǎn)品降價(jià)30%。中國電子科技集團第45所通過(guò)技術(shù)引進(jìn)和消化吸收,攻克了高速圖像采集和硬件處理技術(shù),缺陷識別和處理技術(shù),細微圖形采像技術(shù)等三項關(guān)鍵技術(shù),并成功 應用于A(yíng)OI設備的研制,目前已獲得專(zhuān)利4項,申報并受理發(fā)明專(zhuān)利6項,發(fā)表學(xué)術(shù)論文6篇,獲省部級科學(xué)技術(shù)二等獎1項。該項目的完成,標志著(zhù)我國在自動(dòng)光學(xué)檢測設備領(lǐng)域具備與國外主流設備展開(kāi)競爭的實(shí)力,提高了我國電子專(zhuān)用檢測設備的制造水平。