可自定義的現成測試執行軟件增加了多站點(diǎn)設備功能、報告生成和分選機/探針臺接口，實(shí)現更智能的測試系統

新聞發(fā)布 - 2016年3月15日- NI (美國國家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI) 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商，今日亮相2016 Semicon中國半導體展，并宣布推出TestStand半導體模塊，為測試系統工程師提供了所需的軟件工具來(lái)快速開(kāi)發(fā)、部署和維護半導體測試系統。

借助TestStand半導體模塊，工程師可以采用與在生產(chǎn)車(chē)間部署半導體測試系統(STS) 一樣的編程方法在實(shí)驗室進(jìn)行特性分析，從而減少了關(guān)聯(lián)測量數據所需的時(shí)間。 TestStand半導體模塊基于 TestStand這一已經(jīng)被全球超過(guò)1萬(wàn)名開(kāi)發(fā)工程師所采用的業(yè)界標準測試管理軟件，可幫助用戶(hù)使用PXI和TestStand的功能自行搭建半導體測試所需的機架式系統，而不需要采用STS傳統的“測試頭”架構。

“NI致力于通過(guò)開(kāi)放式軟件和模塊化硬件不斷降低半導體測試的成本，” NI半導體測試副總裁Ron Wolfe表示， “我們在2014年推出STS，使得業(yè)界標準的開(kāi)放式PXI平臺具有了專(zhuān)門(mén)針對半導體測試的功能。今天，我們專(zhuān)門(mén)針對半導體測試的特性分析以及生產(chǎn)等各個(gè)階段的需求開(kāi)發(fā)了TestStand半導體模塊，提高了測試開(kāi)發(fā)的效率?！?/p>

TestStand半導體模塊提供了專(zhuān)門(mén)針對半導體測試的功能，可降低開(kāi)發(fā)成本和提高生產(chǎn)吞吐量。 功能包括：

動(dòng)態(tài)多站點(diǎn)編程，可將代碼復用于多個(gè)站點(diǎn)上（數量可調）

直觀(guān)的引腳圖編輯器，包括PXI和第三方儀器

標準測試數據格式(STDF)結果處理器，使用業(yè)界標準的格式記錄參數測試結果

TestStand半導體模塊進(jìn)一步補充了NI日益壯大的半導體測試產(chǎn)品家族，半導體測試產(chǎn)品已經(jīng)包含了STS、數百個(gè)高性能PXI儀器以及TestStand和LabVIEW系統設計軟件等各種功能強大的軟件。 NI智能化的平臺方法正在幫助半導體制造商降低RF和混合信號的測試成本，提高測試的吞吐量。

除了以上新品， NI 在2016 Semicon還展示了包括基于NI平臺的藍牙自動(dòng)化測試系統、NI半導體測試系統、第三代PXI控制器/機箱和最新電源模塊、高速串行協(xié)議測試、ADC自動(dòng)化測試系統等演示系統，歡迎大家光臨美國國家儀器位于上海新國際博覽中心N5的5443號展位。

如需了解領(lǐng)先的公司如何借助TestStand半導體模塊降低測試成本，請訪(fǎng)問(wèn) ni.com/teststand/semiconductor。

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