新聞發(fā)布 -2015年6月-美國國家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI) “第十五屆圖形化系統設計征文競賽”已于近日正式啟動(dòng)。此次大賽針對所有使用NI產(chǎn)品的用戶(hù),旨在進(jìn)一步推動(dòng)圖形化系統設計在國內的發(fā)展和應用,使更多的工程師們能更快更好地開(kāi)發(fā)符合特定要求的測控應用。
從2000年開(kāi)始,該活動(dòng)已經(jīng)成功舉辦了十四屆,得到廣大NI新老用戶(hù)的熱情支持,每年都收集到數量眾多的優(yōu)秀創(chuàng )新應用方案,使得大賽獲獎應用方案文集備受青睞?;顒?dòng)一旦正式報名參與,即有獎勵。入圍決賽者更將有機會(huì )獲得豐厚的獎金、超值產(chǎn)品升級與培訓獎勵,以及免費參加 NIDays技術(shù)盛會(huì )的機會(huì )。決賽獲獎文章還將發(fā)表在權威期刊《儀器儀表學(xué)報》增刊上 。
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有關(guān)比賽詳情,請訪(fǎng)問(wèn)下列網(wǎng)址:http://china.ni.com/papercontest2015。