新聞要點(diǎn)
• NI PXIe-5162數字化儀與NI LabVIEW抖動(dòng)分析工具包軟件定義的特性向工程師展示了超越傳統箱式示波器的靈活性和自定義功能。
• 將四通道NI PXIe-5162數字化儀與PXI平臺結合,工程師可以在單個(gè)機箱中創(chuàng )建多達68個(gè)通道的示波器并緊密同步。
新聞發(fā)布 - 2013年4月- 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI)于近日發(fā)布NI PXIe-5162數字化儀,并更新了LabVIEW抖動(dòng)分析工具包。 該數字化儀帶有10位垂直分辨率和5 GS/s采樣率,它的高速測量垂直分辨率是傳統8位示波器的4倍。 NI PXIe-5162單個(gè)插槽中具備1.5 GHz的帶寬和四個(gè)通道,適用于高通道數數字化儀系統的生產(chǎn)測試、研究和設備特性記述。 工程師們因此可以結合使用LabVIEW與數字化儀,以及LabVIEW抖動(dòng)分析工具包中專(zhuān)門(mén)為高吞吐量的抖動(dòng)、眼圖和相位噪聲測量?jì)?yōu)化過(guò)的函數庫,以滿(mǎn)足自動(dòng)化驗證和生產(chǎn)測試環(huán)境所需。
“NI PXIe-5162數字化儀結合了高速、高通道和高分辨率測量三大特點(diǎn),讓傳統的示波器用戶(hù)突破了使用傳統箱型儀器進(jìn)行自動(dòng)化測試的界限,”NI模塊化儀器研發(fā)總監Steve Warntjes表示。 “使用我們的高速數字化儀與LabVIEW抖動(dòng)分析工具包,可以幫助工程師借助現代PC的處理性能,而不是箱型示波器上傳統的嵌入式處理器,加快測量系統的速度。”
NI PXIe-5162 特性
• 10位垂直分辨率,可更深入地解讀信號
• 單個(gè)3U PXI Express插槽包含4個(gè)通道,在一個(gè)PXI機箱中可擴展至68個(gè)通道
• 一個(gè)通道上5 GS/s的最大采樣率或同時(shí)使用四個(gè)通道,每通道1.25 GS/s采樣率
LabVIEW抖動(dòng)分析工具包特性
• 內置時(shí)鐘恢復、眼圖、抖動(dòng)、電平和時(shí)域測量函數
• 眼圖和掩膜測試的示例程序,以及使用雙狄拉克(dual-Dirac)和基于頻譜的分離方法,進(jìn)行隨機抖動(dòng)和確定性抖動(dòng)(RJ/ DJ)分離的示例程序
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關(guān)于NI
自1976年以來(lái),美國國家儀器,簡(jiǎn)稱(chēng)NI (www.ni.com)一直致力于為工程師和科學(xué)家提供各種工具來(lái)提高效率、加速創(chuàng )新和探索。 NI的圖形化系統設計方法為工程界提供了集成式的軟硬件平臺,有助于加速測量和控制系統的開(kāi)發(fā)。 長(cháng)期以來(lái),NI一直期望并努力通過(guò)自身的技術(shù)來(lái)改善社會(huì )的發(fā)展,確??蛻?hù)、員工、供應商及股東獲得成功。