中國上海，2013年10月17日——科學(xué)服務(wù)領(lǐng)域的世界領(lǐng)導者賽默飛世爾科技（以下簡(jiǎn)稱(chēng):賽默飛）攜領(lǐng)先的聚合物以及塑料解決方案亮相于2013德國杜塞爾多夫國際塑料及橡膠博覽會(huì )（簡(jiǎn)稱(chēng)：K Show），展位號：10號廳B59。值此契機，賽默飛不僅推出了最新HAAKE MiniJet Pro注塑成型系統等全新產(chǎn)品，還向全球各地的參觀(guān)者展示了賽默飛聚合物技術(shù)、產(chǎn)品以及應用解決方案，旨在助力解決在聚合物、塑料研發(fā)和生產(chǎn)方面的困難和挑戰。

   2013 K展于10月16-23日舉行，是世界上最大的塑料和橡膠行業(yè)展會(huì )。今年，賽默飛以“溝通、協(xié)作、解決”為主題，充分展示了賽默飛在聚合物研究、測試、監測、量產(chǎn)等環(huán)節的完整解決方案。作為該領(lǐng)域的領(lǐng)軍者，賽默飛能夠幫助研究人員和企業(yè)提升產(chǎn)品質(zhì)量和效果，同時(shí)減少原材料浪費，減少其循環(huán)周期。

  “從研發(fā)到生產(chǎn)，我們的創(chuàng )新和專(zhuān)長(cháng)涵蓋聚合物和塑料行業(yè)的整個(gè)產(chǎn)業(yè)鏈，我們的設計使客戶(hù)能夠獲得卓越、精確的檢測結果。”賽默飛化學(xué)分析部門(mén)市場(chǎng)營(yíng)銷(xiāo)和產(chǎn)品開(kāi)發(fā)副總裁Brian Davies表示，“我們了解與聚合物相關(guān)的工藝參數和對效率起關(guān)鍵作用的決定因素，這些參數和決定因素使科學(xué)家和工程師考慮使用我們提供的方案來(lái)應對其面臨的最大挑戰。”

   創(chuàng )新的材料表征解決方案和多功能光譜儀。賽默飛HAAKE MiniJet Pro是樣品制備儀器系列中的新款機型，使材料科學(xué)家更快、更高效地開(kāi)發(fā)小批量（僅2-13毫升）的注塑試樣，同時(shí)節省時(shí)間和成本。賽默飛設計了活塞注塑成型系統，旨在大幅減小傳統注塑成型機的機械和樣品要求尺寸。

  材料科學(xué)家也可使用賽默飛HAAKE MARS流變儀平臺的Rheonaut模塊來(lái)同時(shí)進(jìn)行流變學(xué)和傅立葉變換紅外光譜測量。這種組合式方法讓材料科學(xué)家能夠在同一個(gè)樣品上取得測量值，從而使數據得到完美的關(guān)聯(lián)。由此可避免不同樣品制備過(guò)程帶來(lái)的不確定性以及采集數據所花費的時(shí)間。 

   賽默飛HAAKE MARS的Rheonaut模塊與高度靈活的賽默飛Nicolet iS50傅立葉變換紅外光譜儀相結合，后者可從簡(jiǎn)單的FT-IR工作臺升級到采集從近紅外到遠紅外光譜的全自動(dòng)多光譜范圍系統。多功能的Nicolet iS50也可一鍵式啟動(dòng)
全新的ATR拉曼和近紅外模塊，使用戶(hù)無(wú)需手動(dòng)改變系統組件即可使用這些技術(shù)。

  賽默飛DXR拉曼顯微鏡展示出先進(jìn)的拉曼顯微鏡如何能幫助科學(xué)家通過(guò)瞄準式和面分布測量來(lái)更好地了解樣品。該儀器具有適用于包裝和聚合物分析等應用的靈敏度和空間分辨率。賽默飛ARL PERFORM'X波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光（WDXRF）分析儀提供了對樣本中不均質(zhì)的樣品或缺陷進(jìn)行小光斑分析和繪制面分布圖的能力。賽默飛ARL OPTIM'X也采用WDXRF分析技術(shù)幫助以高分辨率測定多種液體和固體樣品的元素組成。

   小型擠出機。緊湊的獨立式賽默飛Process 11雙螺桿擠出機進(jìn)行的是小型試驗，但其堅固程度足以混合高性能的聚合物。由于賽默飛獨立式混合系統擁有經(jīng)過(guò)驗證的可擴展性，研究人員能夠方便地使用其測量結果來(lái)優(yōu)化生產(chǎn)條件。在使用Process 11擠出機后，研究人員僅需少量材料即可進(jìn)行一系列試驗，從而節省材料和勞力成本。

  高性能薄膜測厚。賽默飛PROSIS紅外過(guò)程分析厚度傳感器采用全光譜紅外光分析在線(xiàn)材料，為薄膜測厚用戶(hù)提供改善生產(chǎn)質(zhì)量和減少廢料的高精度多組分厚度數據。賽默飛PROSIS為制造商帶來(lái)高精度的厚度和濕度數據、更大的原材料節省量和更高的生產(chǎn)率。該傳感器用于多種應用，包括食品包裝行業(yè)、保健和個(gè)人衛生市場(chǎng)中使用的無(wú)紡布、電子設備中使用的光學(xué)薄膜和金屬線(xiàn)圈上的各種涂層。

  欲了解更多關(guān)于賽默飛K展的信息，敬請登錄thermoscientific.com/k2013。 

  您可在以下時(shí)間段使用賽默飛DXR拉曼顯微鏡現場(chǎng)測試預登記的多層樣品：2013年10月21日周一至2013年10月23日周三上午11時(shí)和下午3時(shí)。同時(shí)，歡迎將預先登記的樣品帶至賽默飛展臺，親自體驗賽默飛傳感器帶來(lái)的不同體驗。