PXI Express測試儀器與實(shí)驗芯片相連接的測試平臺
"我們已使用PXI Express自動(dòng)測試系統完成多個(gè)項目,并獲得非常滿(mǎn)意的效果。自動(dòng)測試系統大大減少了芯片測試的時(shí)間,而其快速、準確的直流測試更是實(shí)驗室的寶貴財富。"
- Mario Konijnenburg, Holst Centre/imec
The Challenge:
創(chuàng )建靈活的測試系統用于自動(dòng)驗證和表征新的超低功耗半導體芯片設計。
The Solution:
使用NI LabVIEW軟件和NI PXI Express高速數字I/O設備開(kāi)發(fā)自動(dòng)測試系統,前者讀取測試向量,后者產(chǎn)生和接收數字數據,并同時(shí)以很高的精度測量芯片設計的直流損耗。