雷達處理器背板JTAG 技術(shù)

　　The Challenge:

　　開(kāi)發(fā)高級軍事空中雷達處理器的系統級測試，受到使用傳統測試訪(fǎng)問(wèn)連接器（TAC）的限制，TAC是從過(guò)去的設計版本中延續下來(lái)的，只包含較少的可用信號線(xiàn)路。這個(gè)限制意味著(zhù)外部只有一個(gè)JTAG測試訪(fǎng)問(wèn)端口（TAP）。需要JTAG拓撲結構來(lái)計算系統在出現故障情況下部分關(guān)閉或是一些模塊不合適的可能性。還需要附加的自動(dòng)防故障安裝置來(lái)防止不正確的JTAG 訪(fǎng)問(wèn)導致系統模塊的意外地開(kāi)啟或關(guān)閉。

　　The Solution:

　　利用先進(jìn)的JTAG/邊界掃描軟件工具以及例如National Semiconductor ScanBridges等商業(yè)TAP拓撲設備，創(chuàng )建系統級的測試訪(fǎng)問(wèn)網(wǎng)絡(luò )。附加的NI硬件和應用執行軟件將系統從單一的JTAG/邊界掃描提升至功能測試系統。

　　"NI硬件和應用執行軟件將系統從單一的JTAG/邊界掃描提升至功能測試系統。"

　　本文討論的SELEX 空中雷達使用了可擴展設計，它具有動(dòng)態(tài)可重復配置的活動(dòng)背板，為多個(gè)矢量計算（VP）板卡進(jìn)行服務(wù)。當出現板卡故障時(shí)，這樣的設計可以利用智能背板，通過(guò)關(guān)閉可疑板卡的電源對服務(wù)進(jìn)行降級。主通信處理器允許通過(guò)EFA總線(xiàn)標準、雷達總線(xiàn)接口、接收器接口和視頻接口對VP 板卡進(jìn)行訪(fǎng)問(wèn)。

　　在測試系統中，NI PCI-6533用作位于每個(gè)SRI（商店可替換品）上EMId（電子模塊標識）設備的接口。它們帶有元件編號和序列號數據等等，還包括最近故障檢測日志。PCI-DIO-96 被作為一個(gè)使用CPLD、有160 個(gè)管腳的DIO，CPLD 將來(lái)自測試控制器PC 的I/O 板卡的輸出和輸入進(jìn)行多路復用。該系統包括了可選的輸入事件阻塞（用于捕捉瞬態(tài)事件）以及所有雙向操作。16 個(gè)I/O 管腳用作控制和狀態(tài)信號，而其他80 個(gè)管腳通過(guò)多路復用，提供了160個(gè)輸出和160 個(gè)輸入，用于對數字接口進(jìn)行仿真和測試。

　　JTAG/ 邊界掃描測試和ISP（在系統編程）是系統的核心部分，現在被認為是用于檢查在生產(chǎn)和原型開(kāi)發(fā)調試中線(xiàn)路板（PCBs）和系統是否出現裝配故障以及在發(fā)布設備中是否出現現場(chǎng)服務(wù)故障的主要手段。

　　邊界掃描測試依賴(lài)于內置的測試電路以及現代的高度集成的電子設備（與IEEE 標準1149.1 兼容），邊界掃描測試需要由四個(gè)或五個(gè)數字接口組成的最小測試接口。這與傳統釘板測試系統的巨大形成了鮮明的對比，釘板測試系統需要數百個(gè)甚至上千個(gè)測試探針連接。因此，邊界掃描測試器將會(huì )降低到串行協(xié)議接口單元的大小，該單元可由PCI、PXI 或是緊湊型工作臺（USB/ 以太網(wǎng)）控制單元提供。將電源簡(jiǎn)單地添加到系統中就可以將自治PCB 測試器投入工作。此外，利用ScanBridge TAP 多路復用器對產(chǎn)品進(jìn)行細致的設計，就可以用單個(gè)控制器訪(fǎng)問(wèn)系統中的一系列PCB，這樣就構建了系統/LRI（線(xiàn)路可替換品）測試器。

　　空中雷達充分利用了ScanBridge 設備，將系統劃分為邏輯可訪(fǎng)問(wèn)模塊。將模擬測量?jì)x器和測試信號多路復用器等更多周邊接口硬件加入系統之后，系統就從基于“結構化”邊界掃描的測試器升級成功能齊全的集成測試功能的混和信號測試系統。