EFI模塊測試系統是由NI測試儀、模擬負載箱、電源、條碼掃描和測試夾具五部分組成。測試人員手動(dòng)將模塊放入夾具，并將條碼掃描以后，系統將自動(dòng)執行模塊功耗、輸入端對地電阻、A/D采樣值、輸出端漏電流、FET鉗位電壓、E2PROM校驗等多項檢驗。同時(shí)記錄檢測數據及通過(guò)/失敗狀態(tài)，并將數據自動(dòng)存儲為T(mén)XT文件用于將來(lái)的數據分析。

    一、 硬件結構

    EFI 測試系統的硬件結構參見(jiàn)圖1。

圖1 EFI測試系統的硬件結構

    它包括NI測試儀(CPU、DAQ、OSC、WAVEFORM GENERATE、MATRIX SWITCH)、模擬負載箱、電源、條碼掃描和測試夾具五部分。

    模塊的檢測包括輸入端口硬件、輸出端口硬件及特定工況下的功能檢測三部分。 為完成輸入端口的硬件檢測，選用PXI－6070E多功能卡進(jìn)行數據采集，它有64路12位模擬量輸入，2路模擬量輸出，及八條數字I/0端口。端口切換選用了NI-2503開(kāi)關(guān)卡，它是雙線(xiàn)24位開(kāi)關(guān)卡，負責將被測試端口與采集卡PXI-6070E相連。

    同樣，對輸出端的硬件切換由另一塊NI-2503卡完成。數據采集使用NI-5112示波器卡完成。它的100MHz頻寬可以確保對點(diǎn)火及噴油脈沖的采集。采集到的數據將會(huì )放到指定的緩沖區中。通過(guò)進(jìn)行數據分析，我們就可以得到輸出信號脈沖的最大值及頻率值。
完成硬件的檢測后,同樣利用BOOTSTRAP模式,將標定數據送入模塊E2PROM中,然后將芯片切換到單片模式。模擬正常工況檢測模塊工作狀態(tài)，完成特定工況下的功能檢測。通過(guò)以上的測試,確保了模塊的可靠性。

    二、軟件設計

    在擁有計算機及相應硬件卡的環(huán)境下，LABWINDOWS以其基于C語(yǔ)言的開(kāi)發(fā)環(huán)境，良好的用戶(hù)界面（如圖2所示）、強大的庫函數和方便快捷的調試手段，使設計者能以最快的速度設計、調試和開(kāi)發(fā)實(shí)際的測試系統，大大降低了工作量。

圖2 LABWINDOWS良好的用戶(hù)界面

    模塊檢測系統軟件可以工作在三種模式下：

    A.硬件診斷模式

    B.功能測試模式

    C.EOL測試模式

    對輸入端口的硬件檢測，可以通過(guò)調用NI-2503，NI-5112及PXI-6070E的驅動(dòng)函數，來(lái)非常方便地完成。

    芯片的A/D采樣值及輸出端口的硬件檢測，需要下載專(zhuān)用測試程序（使用匯編語(yǔ)言編寫(xiě)約1KB）。利用軟件編程, 首先要進(jìn)入68HC11的BOOTSTRAP模式，然后將專(zhuān)用測試程序下載到芯片。通過(guò)調用專(zhuān)用測試程序的子程序，可以完成包括讀/寫(xiě)芯片RAM、E2PROM區，校驗RAM、E2PORM區，A/D采樣值讀取，設定PWM輸出脈沖，校驗版本號等多項功能。

    功能測試時(shí)，使芯片工作在單片模式，通過(guò)調用NI-5411任意波型發(fā)生器驅動(dòng)函數來(lái)模擬轉速信號的60-2波型，同時(shí)輸入相應的電壓信號，模擬各傳感器信號輸入，完成特定工況下的功能測試。
所有測試結果將會(huì )存入到指定的文件中，用于統計CPK及數據分析。

    三、分析評價(jià)

    通過(guò)以上實(shí)際應用，LABWINDOWS軟件開(kāi)發(fā)的測試系統具有以下顯著(zhù)優(yōu)點(diǎn)：

    1. 加快了系統的開(kāi)發(fā)周期，降低了開(kāi)發(fā)難度。使用LABWINDOWS可以方便地調用硬件驅動(dòng)程序及功能函數,降低了工作強度，加速了開(kāi)發(fā)進(jìn)程。

    2. 減少了測試周期。使用LABWINDOWS，使數據傳輸速度及測量時(shí)間得到提高,減少了產(chǎn)品的測量時(shí)間，每個(gè)模塊的測量時(shí)間小于50s。

    3. 具有很高的通用性。使用相同的硬件環(huán)境，僅對軟件進(jìn)行微調，就可以測量ECS、DIS等系列產(chǎn)品。